[測試座]為什么要做老化測試？半導(dǎo)體IC老化測試過程中你要了解

[測試座]為什么要做老化測試？半導(dǎo)體IC老化測試過程中你要了解

不管我們無論走到哪里，大家都時時刻刻被高新科技所包圍。實(shí)際上，大家智能手機(jī)已經(jīng)是大家日常日常生活不可缺少的專用工具。假如不能使用此應(yīng)用，你將非常難過一天。

這種不同種類的技術(shù)性都需要一個不可缺少的組件——半導(dǎo)體。視之為當(dāng)代電子產(chǎn)品人的大腦。和任何電子產(chǎn)品相近，我們應(yīng)該保證這一核心部件的穩(wěn)定性，便于我們自己的機(jī)器設(shè)備正常運(yùn)轉(zhuǎn)。

那樣生產(chǎn)商怎樣提高向客戶帶來最好商品的概率呢？嗯，這是由嚴(yán)格半導(dǎo)體測試完成。最常見的和最主要的測試協(xié)議書之一是老化測試。該測試全過程致力于檢驗(yàn)組件的初期故障同時減少使用中發(fā)生缺陷和故障的概率。

無論你是不是了解老化測試的多元性，毫無疑問它必要性?？墒?，如果你歸屬于后一類，不要擔(dān)心！

有關(guān)老化測試您要了解內(nèi)容

2.1.半導(dǎo)體開展老化測試的效果

專業(yè)技術(shù)人員將半導(dǎo)體放進(jìn)老化系統(tǒng)

顧客為他的電子產(chǎn)品付款高價位。她們最希望看到的是產(chǎn)品在付款后的十年內(nèi)發(fā)生故障。盡管難以保證 100%成功概率，但開展老化測試以拷貝具體的當(dāng)場工作壓力自然環(huán)境能夠幫助減少故障率。

這個在很多樣版中進(jìn)行的老化測試使生產(chǎn)商可以更好的了解半導(dǎo)體實(shí)際應(yīng)用中性能。一切在測試期內(nèi)產(chǎn)生故障的組件都會被丟掉。

通過這些清除全過程，生產(chǎn)商能夠最大限度減少她們運(yùn)輸給顧客的有瑕疵半導(dǎo)體的總數(shù)。此方法增強(qiáng)了電子產(chǎn)品做到顧客預(yù)估的穩(wěn)定性水準(zhǔn)的概率。因而，老化測試針對保證生產(chǎn)流水線的質(zhì)量把控尤為重要。

老化測試是怎樣所進(jìn)行的？

老化系統(tǒng)半導(dǎo)體板

如同他們所探討的，開展老化測試有助于降低太早無效的機(jī)器總數(shù)?？墒侨^程是怎樣開展的？這也是可以將半導(dǎo)體元器件放置特定高應(yīng)力環(huán)境下以拷貝強(qiáng)化的當(dāng)場自然環(huán)境來完成的。通過該程序流程，生產(chǎn)商可以檢測并清除有偏差的構(gòu)件。

在測試環(huán)節(jié)，半導(dǎo)體元器件被固定于衰老板里，然后就被放置于老化系統(tǒng)（如自然環(huán)境室）中。在這樣一個實(shí)驗(yàn)室中，零件在正常工作條件下或高過正常工作條件中進(jìn)行工作壓力測試，以逐漸取代在半導(dǎo)體額定值使用壽命以前產(chǎn)生故障的所有組件。

依據(jù)測試情景，這種工作性質(zhì)可能包括將半導(dǎo)體元器件暴露于極端化溫度、轉(zhuǎn)變電壓/電流量、高輸出功率或所有其他被歸為限制的條件下。

以上要素當(dāng)做強(qiáng)化的應(yīng)激源，造成這種設(shè)備產(chǎn)生故障。以在可控環(huán)境里使構(gòu)件承受細(xì)心校正的惡劣前提條件，專業(yè)技術(shù)人員能夠在不改變高品質(zhì)構(gòu)件使用期限的情形下鑒別特性不太好的構(gòu)件。

這種老化測試的目的是為了生產(chǎn)商搜集充足的數(shù)據(jù)信息從而形成浴盆曲線（下例）并減少半導(dǎo)體故障率。

在最初測試環(huán)節(jié)——被歸為嬰兒死亡期——很多半導(dǎo)體總要經(jīng)歷早期組件故障。這種故障一般是生產(chǎn)制造偏差的結(jié)論，因?yàn)榧みM(jìn)技術(shù)性放大并增加的電源電路多元性，生產(chǎn)制造缺點(diǎn)變得更加廣泛。

這種缺點(diǎn)的主要原因能夠定為電導(dǎo)體故障、電轉(zhuǎn)移、電解介質(zhì)故障、鍍覆故障等。這種缺點(diǎn)不能通過傳統(tǒng)式的質(zhì)量保證測試發(fā)覺，所以這些類別的故障一般處在休眠模式，而且很有可能在系統(tǒng)生存周期中任意發(fā)生。因而，半導(dǎo)體電子器件需經(jīng)過聚集測試才能把這類問題體現(xiàn)為故障。

但是，雖然故障率隨著時間降低，但嬰兒死亡率期內(nèi)得到的結(jié)果并不是很好，由于在短期內(nèi)依然存在很多故障產(chǎn)生。在這一階段交貨半導(dǎo)體可能導(dǎo)致顧客不滿意和高昂的保修費(fèi)用。

希望用從老化測試中搜集反饋，能夠改善生產(chǎn)流程，從而減少故障率。盡管組件很有可能仍然會隨著時間推移而出現(xiàn)故障，但目的是為了保證這種故障一般出現(xiàn)于設(shè)備使用壽命的穩(wěn)定性命環(huán)節(jié)。假如機(jī)器設(shè)備能夠維持到損壞環(huán)節(jié)，那將會是最佳的。

從理論上來說，在半導(dǎo)體的正常運(yùn)行使用壽命期內(nèi)，故障依然很有可能任意產(chǎn)生。但是，如在很長的一段時間內(nèi)開展操作時，各種問題一般便以相對性相對穩(wěn)定的速率發(fā)生。因而，如果它被稱作非難題，并成為做到使用壽命終點(diǎn)的商品銷戶。

即便如此，各種問題依然能給生產(chǎn)商產(chǎn)生保修費(fèi)用。因而，她們會期待浴盆曲線底端（故障率）越小越好。在半導(dǎo)體的期望使用期限期內(nèi)所發(fā)生的一切損壞故障也要在商品提前準(zhǔn)備好運(yùn)氣贈給顧客以前及時解決。

另一個需要注意的問題關(guān)鍵細(xì)節(jié)是，老化測試一般是在可交貨商品上所進(jìn)行的。因而，這種評定比不上加快使用壽命測試那樣聚集。這種半導(dǎo)體元器件在老化測試中花費(fèi)的時間都比在 ALT 測試中花費(fèi)的時間少。終究，生產(chǎn)商不愿危害其產(chǎn)品的使用期。

老化測試中常用的溫度一般做到 150 ℃或變低，而且測試增加量能夠超越幾個小時到幾日，實(shí)際在于測試規(guī)定。這和 ALT 測試形成了鮮明的對比，在 ALT 測試中，機(jī)器設(shè)備曝露在大達(dá) 300 – 400 ℃溫度下很長一段時間（千余到數(shù)十萬鐘頭）從而達(dá)到組件的故障點(diǎn)。

2.3.老化測試的種類

突顯老化測試類別的數(shù)據(jù)圖表

如今你對老化測試全過程擁有更好地了解，你可能想要知道測試種類和測試方式是不是出現(xiàn)任何差別。當(dāng)然可以了！測試全過程中常用的老化測試種類在于你的規(guī)定。

如果你不確定性哪一種測試方式更符合客戶的需求，請?jiān)试S對于可以用的三種不同種類的測試以及優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)分解，便于您作出明智的選擇。

靜態(tài)數(shù)據(jù)測試

在靜態(tài)老化測試期內(nèi)，極端化溫度和電流會增加到各個構(gòu)件，而不會用或鍛練每一個組件。這一過程較為簡單

昆山優(yōu)力技鑫機(jī)械是一家集生產(chǎn)加工、經(jīng)銷批發(fā)測試座的企業(yè)，專注于：測試座、振蕩器測試座、傳感器測試座、老化測試座、燒錄座、晶振測試座、IC測試座、BGA測試座、QFN測試座等測試座領(lǐng)域。