在老化測(cè)試座環(huán)節(jié)中，獨(dú)特老化主板上的組件將承擔(dān)相當(dāng)于或大于其額定值工作性質(zhì)壓力，以解決一切在額定值使用壽命以前太早無效的構(gòu)件。這種測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)包含溫度、工作電壓/電流量、輸出功率或任何其他特定為最大值的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。這種種類壓力測(cè)試有時(shí)候稱之為加快使用壽命測(cè)試（HALT/HASS一個(gè)子集合)，因?yàn)樗抡婺M部件在極端化情況下的長(zhǎng)期運(yùn)作。

在老化測(cè)試座的基本原理中，大部分半導(dǎo)體元器件的事例都是有初期常見故障或故障風(fēng)險(xiǎn)性，這將會(huì)減少其處理芯片使用壽命。老化測(cè)試座可用于明確部件在這樣一個(gè)重要的初期階段的穩(wěn)定性，以確保電源電路進(jìn)入一個(gè)更高效的長(zhǎng)期性階段。老化系統(tǒng)軟件能使系統(tǒng)在不斷攀升的電流和溫度下運(yùn)作，進(jìn)而在短期內(nèi)開啟工作電壓和溫度常見故障體制。盡管預(yù)燃測(cè)試很有可能有益于偽劣產(chǎn)品的挑選，但是由于特性要求的嚴(yán)重后果，成本費(fèi)也會(huì)隨著機(jī)器的多元性和所需要的預(yù)燃時(shí)長(zhǎng)而變化。

在電子元器件中，最常見老化測(cè)試座水準(zhǔn)一般是芯管水準(zhǔn)、外包裝能力和單晶硅片水準(zhǔn)老化。這種名字是指測(cè)試新產(chǎn)品的生產(chǎn)制造階段，每一個(gè)階段都會(huì)給廠家產(chǎn)生各種各樣益處。因此有很多人一直在尋找“已經(jīng)知道符合要求的測(cè)試射頻連接器”，即測(cè)試射頻連接器具備穩(wěn)定性和實(shí)效性，還可以在老化測(cè)試座中開發(fā)設(shè)計(jì)優(yōu)化策略。在處理芯片的差異生產(chǎn)制造階段，這一測(cè)試射頻連接器有著不同的老化測(cè)試座座來配對(duì)，如單晶硅片，可以用信用卡；比如，處理芯片，不一樣產(chǎn)品的包裝有著不同的外包裝老化測(cè)試座坐椅，QFP老化實(shí)驗(yàn)座，QFN老化實(shí)驗(yàn)座等。老化實(shí)驗(yàn)是提升和減少初期設(shè)備故障率的一種方法。根據(jù)老化實(shí)驗(yàn)?zāi)軌驒z測(cè)出半導(dǎo)體材料里的潛在性缺點(diǎn)。當(dāng)機(jī)器設(shè)備增加的電流地應(yīng)力和加溫運(yùn)行時(shí)，潛在性缺點(diǎn)越來越明顯。大部分初期常見故障主要是因?yàn)閼?yīng)用有瑕疵的生產(chǎn)制造材料及生產(chǎn)制造階段錯(cuò)誤所造成的。根據(jù)老化實(shí)驗(yàn)，僅有初期設(shè)備故障率低構(gòu)件才可以投入市場(chǎng)。

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