老化測試座為什么IC出廠之前都要做加速老化測試呀？

伴隨著芯片進到汽車、云計算技術和工業(yè)互聯網市場，IC穩(wěn)定性也成了開發(fā)者關注的重點，事實上，隨著時間推移，芯片達到目標的功效將變得更加艱難。

以往，為手機和電腦定制的芯片還可以在性能卓越下正常啟動2到4年，兩至四年后芯片作用逐漸降低。

#老化測試座 但是隨著芯片進到新市場和過去不健全的電子設備市場，這將不會是一個簡單的問題。

每一個終端設備市場都有著不同的要求，對每一個終端設備市場都有著不同的要求IC操作方法條件也不盡相同。芯片使用方法條件對老化和安全隱患有更高的危害。危害芯片品質的影響因素變得更多。PCB當已經知道比較好的芯片與其它芯片一起外包裝時，特性很有可能會有不同。

芯片從頭至尾都是在運作，IC內部結構控制模塊一直在加溫，造成老化加速，很有可能會引發(fā)各種各樣不明難題。

因而，芯片設計創(chuàng)意公司需在芯片在出廠時進行芯片加快老化測試（HAST）然后點擊檢驗更加好的良片進到市場。

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