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石英振蕩器Aging系統(tǒng)
已選擇：
CXP 10pin D-type
CXP 10pin D-type
類型： CXP
CXP 12pin A-type
CXP 12pin A-type
類型： CXP
CXP 6pin
CXP 6pin
類型：
臺灣 TC-1280 TCXO 補償燒錄系統(tǒng)
臺灣 TC-1280 TCXO 補償燒錄系統(tǒng)
類型： 溫度補償燒錄
X2220
X2220
類型： 音叉治具
XCB-C00
XCB-C00
類型： 晶片手動量測治具
BP-003
BP-003
類型： 晶片手動量測治具
XB-TF-1000K-S
XB-TF-1000K-S
類型： 音叉測頭
XB-TF-1000K
XB-TF-1000K
類型： 音叉測頭
XB-TF-1000K-PBA
XB-TF-1000K-PBA
類型： 音叉測頭
晶片量測載板BP-003
晶片量測載板BP-003
類型： 晶片量測載板
X3+Socket
X3+Socket
類型： 250B轉(zhuǎn)接板(測試座式)
250B轉(zhuǎn)接板(特殊型)
250B轉(zhuǎn)接板(特殊型)
類型： 250B轉(zhuǎn)接板(特殊型)
XB-011-A00+PCB
XB-011-A00+PCB
類型： 250B晶振引腳型測頭零件
XB-A01 12.5 Ohm SMD 測頭
XB-A01 12.5 Ohm SMD 測頭
類型： 250B晶振SMD測頭
XBO-C01
XBO-C01
類型： 250B晶振SMD測頭零件
X8-A01 49S DIP Socke
X8-A01 49S DIP Socke
類型： 晶振引腳型溫測圈零件
X8-254 雙排晶振測試環(huán)(254工位)
X8-254 雙排晶振測試環(huán)(254工位)
類型： 晶振引腳型溫測圈
XB-011-A00
XB-011-A00
類型： 晶振引腳型測試治具
XB-B00 12.5 Ohm DIP 測頭
XB-B00 12.5 Ohm DIP 測頭
類型： 250B晶振引腳型測頭
XpiS-A16
XpiS-A16
類型： 晶振量測探針板
XPIS-A15
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類型： 終檢機晶振量測PI頭
7051FTB-XTAL-PBA
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類型： 晶振量測PI板
X1-TF-TH
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類型： 音叉治具
NS01-A00
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類型： W2200溫測盤支撐架
X5+Socket
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類型： 測試座含轉(zhuǎn)接板
X280B
X280B
類型： 280B 鐘振轉(zhuǎn)接座
X411-Series
X411-Series
類型： W2800鐘振溫度特性測試盤
X1-Series
X1-Series
類型： W2200 晶振溫度特性測試盤
X1-80 Serie
X1-80 Serie
類型： W2200 晶振溫度特性(測試座式)測試盤
X41-64+X5-A00
X41-64+X5-A00
類型： W2800鐘振溫度特性測試盤(測試座式)
X4(1)-Series
X4(1)-Series
類型： W2800鐘振溫度特性測試盤
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