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石英振蕩器Aging系統(tǒng)
已選擇：
X8-254 雙排晶振測試環(huán)(254工位)
X8-254 雙排晶振測試環(huán)(254工位)
類型： 晶振引腳型溫測圈
X8-A01 49S DIP Socke
X8-A01 49S DIP Socke
類型： 晶振引腳型溫測圈零件
X8-WIPER
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類型： 溫測圈上引腳型插座用彈片
X9-WIPER
X9-WIPER
類型： TTS-100溫測機用彈片
X41-64+X5-A00
X41-64+X5-A00
類型： W2800鐘振溫度特性測試盤(測試座式)
X42-HCSL/LVDS/PECL
X42-HCSL/LVDS/PECL
類型： 溫測盤
X280B
X280B
類型： 280B 鐘振轉接座
X411-Series
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類型： W2800鐘振溫度特性測試盤
X2220
X2220
類型： 音叉治具
XB-011-A00
XB-011-A00
類型： 晶振引腳型測試治具
XB-011-A00+PCB
XB-011-A00+PCB
類型： 250B晶振引腳型測頭零件
XB-A01 12.5 Ohm SMD 測頭
XB-A01 12.5 Ohm SMD 測頭
類型： 250B晶振SMD測頭
XB-B00 12.5 Ohm DIP 測頭
XB-B00 12.5 Ohm DIP 測頭
類型： 250B晶振引腳型測頭
XB-TF-1000K
XB-TF-1000K
類型： 音叉測頭
XB-TF-1000K-PBA
XB-TF-1000K-PBA
類型： 音叉測頭
XB-TF-1000K-S
XB-TF-1000K-S
類型： 音叉測頭
XB-WIPER
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類型： 引腳型晶振插座用彈片
XBO-C01
XBO-C01
類型： 250B晶振SMD測頭零件
XCB-C00
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類型： 晶片手動量測治具
XCS-B00 OSC side pad手動量測臺
XCS-B00 OSC side pad手動量測臺
類型： 鐘振內晶片手動量測臺
XH-Series
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類型： 280A負載治具
XPIS-A15
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類型： 終檢機晶振量測PI頭
XpiS-A16
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類型： 晶振量測探針板
光固化打印機
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類型： 打印機
光固化打印機
光固化打印機
類型： 打印機
光固化打印機
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類型： 打印機
光固化打印機
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類型： 打印機
晶片量測載板BP-003
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類型： 晶片量測載板
臺灣 TC-1280 TCXO 補償燒錄系統(tǒng)
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類型： 溫度補償燒錄
陀螺儀測試座
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類型：
未標題-2
未標題-2
類型：
鐘振DIP溫測圈
鐘振DIP溫測圈
類型： 溫測圈
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